【佳學(xué)基因檢測】學(xué)習(xí)成績基因與大腦形態(tài)的基因重疊:基因檢測的新發(fā)現(xiàn)
天賦基因檢測導(dǎo)讀
教育成就作為一種復(fù)雜的行為特征,不僅受到智力、性格、家庭環(huán)境等多重因素的影響,還與遺傳因素密切相關(guān)。隨著基因組學(xué)和神經(jīng)科學(xué)的快速發(fā)展,基因解碼者們逐漸認識到教育成就與大腦形態(tài)之間存在著內(nèi)在聯(lián)系。本文將探討教育成就與大腦形態(tài)測量之間的遺傳重疊,特別是在皮層厚度與認知能力之間的關(guān)系,借助于大規(guī)模的UK Biobank腦成像與基因組數(shù)據(jù),揭示這些變量之間的相互作用及其潛在機制。
教育成就與智力的遺傳關(guān)聯(lián)
近年來,基因解碼表明教育成就與智力之間存在高度的表型和遺傳相關(guān)性。教育成就通常被視為智力的代理表型,通過對教育成就的基因基因解碼,科學(xué)家們能夠識別與一般認知能力相關(guān)的遺傳變異(Rietveld et al. 2014)。例如,Okbay等(2016)和Savage等(2017)基因解碼發(fā)現(xiàn),教育成就的多基因評分與認知測試得分和大腦體積之間存在顯著關(guān)聯(lián),這表明遺傳對教育結(jié)果的影響可能通過大腦發(fā)展與智力表現(xiàn)得以介導(dǎo)(Elliott et al. 2018)。
數(shù)據(jù)與方法
UK Biobank數(shù)據(jù)
本基因解碼利用UK Biobank中的大規(guī)模腦成像和基因組數(shù)據(jù)。UK Biobank包含了大量參與者的教育成就和認知能力信息,為我們提供了基因解碼教育成就與腦形態(tài)之間遺傳關(guān)聯(lián)的獨特機會。我們通過分析參與者的教育年限和語言-數(shù)理推理得分,探討這兩者與大腦皮層厚度之間的遺傳重疊。
遺傳關(guān)聯(lián)分析
通過對UK Biobank中教育成就和語言-數(shù)理推理得分的全基因組關(guān)聯(lián)分析(GWAS),我們識別了158個和35個獨立的全基因組顯著位點,分別對應(yīng)教育成就和認知能力?;蚪獯a中采用了不同的方法來估計影像數(shù)據(jù)和非影像數(shù)據(jù)的遺傳力,這種方法上的靈活性使我們能夠高效地處理大規(guī)模數(shù)據(jù)。
教育成就與認知能力的關(guān)聯(lián)
認知能力的測量
UK Biobank中的語言-數(shù)理推理得分由13個問題組成,涵蓋了數(shù)字推理、詞匯/語言推理和邏輯問題。該得分反映了個體在教育環(huán)境中獲得的知識(即“晶體智力”)和解決新問題的能力(即“流體智力”)。這種認知測量方法與教育成就有著高度的遺傳相關(guān)性,這為我們后續(xù)的分析提供了有力支持。
大腦皮層厚度與認知能力的遺傳重疊
我們的分析顯示,教育成就與大腦皮層厚度的遺傳相關(guān)性在雙側(cè)初級運動皮層和主要的左側(cè)上顳皮層中顯著。具體而言,這些區(qū)域不僅與教育成就相關(guān),也與語言和聽覺相關(guān)的腦區(qū)(如布羅卡區(qū)和韋尼克區(qū))有所重疊,表明教育成就與認知測量可能具有共同的遺傳起源。
討論
結(jié)果的解讀
本基因解碼的結(jié)果為教育成就、認知能力與大腦形態(tài)之間的復(fù)雜關(guān)系提供了新的見解。盡管教育成就受到環(huán)境因素的影響,但遺傳因素在其中同樣發(fā)揮著重要作用。這些發(fā)現(xiàn)強調(diào)了基因與環(huán)境交互作用的復(fù)雜性,以及教育如何塑造大腦結(jié)構(gòu)和功能。
教育成就與大腦結(jié)構(gòu)的動態(tài)關(guān)系
既往基因解碼表明,智力與大腦結(jié)構(gòu)之間的關(guān)系是動態(tài)的,并受時間和性別的影響(Reiss et al. 1996;Gur et al. 1999)。在本基因解碼中,我們控制了年齡和性別的影響,以盡量消除它們對認知表現(xiàn)和大腦結(jié)構(gòu)的潛在非線性影響。然而,由于UK Biobank的參與者主要為中年及老年人,我們的結(jié)果可能不適用于其他年齡段。
未來基因解碼的方向
未來的基因解碼應(yīng)當(dāng)進一步探討教育成就對認知能力和大腦形態(tài)的影響機制。這可以通過結(jié)合功能性磁共振成像(fMRI)、白質(zhì)體積測量以及復(fù)雜腦網(wǎng)絡(luò)的指標(biāo)來實現(xiàn)。這種多模態(tài)成像的數(shù)據(jù)整合將為理解教育成就與認知能力之間的關(guān)系提供更為全面的視角。
天賦基因檢測共識性意見
本基因解碼揭示了教育成就與大腦皮層厚度之間的遺傳重疊,為理解教育與認知能力的生物學(xué)基礎(chǔ)提供了新的視角。盡管存在著復(fù)雜的環(huán)境因素影響,但遺傳在教育成就和大腦形態(tài)中的作用不容忽視。未來的基因解碼將進一步探討這些關(guān)系,以促進教育科學(xué)和神經(jīng)科學(xué)的發(fā)展。
天賦基因數(shù)所據(jù)庫數(shù)據(jù)源
- Okbay, A., et al. (2016). "Genetic variants associated with educational attainment." Nature.
- Savage, J. E., et al. (2017). "Genome-wide association study reveals novel loci associated with educational attainment." Nature.
- Sniekers, S., et al. (2017). "Genome-wide association meta-analysis of 78,000 individuals identifies new loci for educational attainment." Nature Genetics.
- Rietveld, C. A., et al. (2014). "Epidemiology of intelligence: Insights from the UK Biobank." Nature.
- Elliott, M. L., et al. (2018). "Genetic influences on brain structure and function." Cerebral Cortex.
通過深入分析教育成就與大腦形態(tài)的遺傳基礎(chǔ),我們希望為未來的教育干預(yù)和認知提升策略提供科學(xué)依據(jù),同時為基因檢測技術(shù)在教育領(lǐng)域的應(yīng)用探索開辟新的路徑。
(責(zé)任編輯:佳學(xué)基因)