【佳學(xué)基因檢測】一個(gè)或多個(gè)上側(cè)副切牙發(fā)育不全長期困擾基因檢測
基因檢測導(dǎo)讀：
一個(gè)或多個(gè)上側(cè)副切牙發(fā)育不全基因檢測試劑: 來自湖南省益陽市沅江市新灣鎮(zhèn)的孟建安（化名）在被醫(yī)生診斷為一個(gè)或多個(gè)上側(cè)副切牙發(fā)育不全。聯(lián)系《Comparative Exercise Physiology》,基因突變引起的一個(gè)或多個(gè)上側(cè)副切牙發(fā)育不全會遺傳。
本文關(guān)鍵詞
上側(cè),副切牙,發(fā)育不全,基因檢測
人體疾病表征數(shù)據(jù)庫查詢
出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)上側(cè)副切牙發(fā)育不全醫(yī)師會懷疑以下疾病類型：
怎樣才能診斷正確？
表型數(shù)據(jù)庫代碼是：HP:0011050
表型描述
Agenesis of one or more upper lateral secondary incisor.
(責(zé)任編輯：佳學(xué)基因)
